快速温变试验箱温度变化率一般在5~20℃/分之间，实现以较快的速度真实再现所测样件应用环境条件，一般应用于光电器件、互连电路、组件单元及电子设备的筛选试验和失效模式评估。是发现产品设计缺陷和工艺问题的有效方法。

快温变试验箱温度变化率一般在5~20℃/分之间，实现以较快的速度真实再现所测样件应用环境条件，一般应用于光电器件、互连电路、组件单元及电子设备的筛选试验和失效模式评估。是发现产品设计缺陷和工艺问题的有效方法。

温度速变试验箱温度变化率一般在5~20℃/分之间，实现以较快的速度真实再现所测样件应用环境条件，一般应用于光电器件、互连电路、组件单元及电子设备的筛选试验和失效模式评估。是发现产品设计缺陷和工艺问题的有效方法。

快速升降温试验箱温度变化率一般在5~20℃/分之间，实现以较快的速度真实再现所测样件应用环境条件，一般应用于光电器件、互连电路、组件单元及电子设备的筛选试验和失效模式评估。是发现产品设计缺陷和工艺问题的有效方法。